標題：美國Calmetrics純元素標準片Ni 無限厚

產品概述

美國Calmetrics純元素標準片Ni 無限厚標準片是用來為膜厚測試儀建立標準檔案的，同時也是檢驗和校準膜厚測試儀測試數據是否準確的為一標準。它屬于易損易耗件，但是其的使用壽命卻與操作方法及存放環境息息相關，若操作得當，小心保護且存放在干燥密封的皿器內，那么可大大延長其的使用時間。膜厚標準片是膜厚測試儀（X射線鍍層測厚儀）*的。

美國Calmetrics純元素標準片Ni 無限厚實物圖片：

美國Calmetrics公司專業生產X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務，公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。其生產的標準片質量精良，精度高、穩定性好。

Calmetrics鍍層標準片適用于費希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi（包括：牛津儀器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀。

X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如：單鍍層：Au/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx，合金鍍層：Ni-P/xx。

鍍層標準片適用于X射線類儀器的標準。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標準件都來自于美國Calmetrics公司。

X射線標準片又叫膜厚儀校準片或者薄膜片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。

銅 Cu 1μm 膜厚標準片測厚儀標準片又名膜厚儀校準片：

專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線，之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。